一個更好的選擇
PSI 的雙厚度技術足以汰換一般單一厚度的標準片,因此昰一個更實用、更具成本效益的替代方案。這種新的雙厚度標準片可提供機械式表面測量儀更精確的 SiO2 高度,也提供鍍鉻的 SiO2 的二氧化矽在光學及原子力測量儀的應用。