PSI 標準をご紹介いたします。半導体精密プロセスサービスのリーダー、プロセス・スペシャリティーズ（ＰＳＩ）がお届けする、 NIST トレーサブル較正標準の新製品ラインです。プロセス・スペシャリティーズは、二十年近くにわたり、米国の主要計測ツー ル企業様のすべてに対して薄膜較正標準を OEM 供給してきました。計測ツールをツールメーカー様から提供された標準によって較正する企業様は、すでに弊社標準製品をお使いかもしれません。そして今、半導体較正標準のご注文・ご使用をご検討中の世界の品質保証・品質管理ご担当者様と、すでに標準製品をお使いのユー ザー様のために、より優れた肢択肢が加わりました。

独立のサプライヤー"による、新しく信頼性が高い、 高品質な薄膜やその他の較正標準を、業界のエンドユーザ様が求めていることを、プロセス・スペシャリティーズは、 2001 年に認識しました。以来ここ数年、 PSI は、較正標準に何が真に望まれ必要とされているか、お客様の声に耳を傾けてきました。こうして開発・構築されたのが、弊社が自信を持ってお届けする薄膜較正標準です。お客様からも、今日の半導体業界において ISO 9001 準拠を達成するために最高の品質と使い勝手を備えているとの声が届いています。 PSI 標準による較正と計測ツールのモニタリングは、製造工程のコントロールと歩留まりの向上でもっ とも高いコスト効率を達成する方法の一つです。

プロセス・スペシャリティーズが現在お届けしている製品の 優秀さ、行き届いたお客様サービス、テクニカルサポート、そして迅速な納品を、お客様ご自身の目でお確かめください。モニタ リング、較正、計測ツール標準化のために設計された、新しい標 準製品ラインの中で最初にリリースされるのが薄膜標準製品です。

高品質薄膜と行き届いたお客様サービス、それが 1988 年以来の 弊社の第一目標であり、トレードマークです。この標準は、今日の業界で、最高の品質を誇り、もっとも使いやすい較正標準であることを、弊社の上席第三位の検査担当を務めている私が個人的に 保障いたします。 2005 年に弊社は NVLAP/NIST により ISO/IEC 17025 に認定されました。 PSI は今や、米国で有数の較正の研究所として認められているのです。

NVLAP Lab Code 200669-0