一个更好的选择
PSI 的双厚度技术足以汰换一般单一厚度的标准片,因此昰一个更实用、更具成本效益的替代方案。这种新的双厚度标准片可提供机械式表面测量仪更精确的 SiO2 高度,也提供镀铬的 SiO2 的二氧化硅在光学及原子力测量仪的应用。

机台测试工具
双厚度设计也能加入好用的机台测试结构，可配合针笔之整合、对准、及放大倍率的操作。新的标准片也提供辨识图形以便标准片自动加载时可以对准定位。